О ЦЕНТРЕ
Центр Сканирующей Микроскопии (школа В. А. Мошникова) создан на базе Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина) с целью внедрения современного научного оборудования в исследования и разработку новых микро- и наноразмерных структур.
В Центре Сканирующей Микроскопии специалисты компании ООО «НОВА СПБ» совместно с Институтом непрерывного образования СПбГЭТУ «ЛЭТИ» проводят обучение работе на сканирующих зондовых микроскопах (СЗМ), курсы повышения квалификации с последующим вручением сертификата о повышении квалификации государственного образца. Кроме того, в Центре осуществляется обучение студентов в рамках магистерской R&D программы «Нанотехнологии и диагностика».
ЗАДАЧИ, КОТОРЫЕ МЫ РЕШАЕМ
- Разработка новых методик сканирующей зондовой микроскопии;
- Проведение исследований на коммерческой основе;
- Написание научных статей по результатам исследований и участие в конференциях международного уровня;
- Обучение работе на атомно-силовых микроскопах как в рамках магистерских программ, так и курсов повышения квалификации.
Программы повышения квалификации
«Основы сканирующей зондовой микроскопии»
В курсе даются теоретические основы сканирующей микроскопии, рассматриваются базовые конструкционные узлы микроскопа, основы построения и обработки АСМ-изображений.
Стоимость и программа обучения по запросу.
После прохождения курса вы получите:
- базовые навыки работы со сканирующим зондовым микроскопом NTEGRA PRIMA
- практические основы измерения методами:
- Контактный метод;
- Полуконтактный метод.
- диплом государственного образца
«Сканирующая зондовая микроскопия»
В курсе даются теоретические основы сканирующей микроскопии, рассматриваются базовые конструкционные узлы микроскопа, основы построения и обработки АСМ-изображений.
Стоимость и программа обучения по запросу.
После прохождения курса вы получите:
- базовые навыки работы со сканирующим зондовым микроскопом NTEGRA PRIMA
- практические основы измерения методами:
- Контактный метод;
- Полуконтактный метод;
- Сканирующая микроскопия сопротивления растекания;
- Сканирующая микроскопия пьезоотклика;
- Многопроходные методы.
- диплом государственного образца