Лекции в Центре
09.12.2025
Лекция в ЦЗМ ИТМО: Кирилл Андреевич Лаптинский
Спектроскопия комбинационного рассеяния света и методы машинного обучения для решения научных и практических задач.
24.11.2025
Лекция в AFM Centre: Аликин Денис Олегович
Литий в движении. Исследование процессов заряда-разряда в аккумуляторах
06.11.2025
Лекция в Центре: Ефремов Юрий Михайлович
В Центре зондовой микроскопии AFM Centre (ИТМО) — бесплатная открытая лекция «АСМ в анализе механических свойств клеток и клеточных агрегатов: вязкоупругость, анизотропия и другие особенности». Лектор: Юрий Ефремов, к.б.н., ИРМ Сеченовского Университета. Форматы: очно/онлайн, регистрация обязательна. Адрес: СПб, Ломоносова 9, ауд. 2221/2.
23.10.2025
Лекция в Центре: Агликов Александр Сергеевич
От шероховатости к топологическим инвариантам: новые методы анализа данных атомно-силовой микроскопии
29.05.2025
Лекция в Центре: Мухин Иван Сергеевич
Излучение света из области СТМ контакта при процессах неупругого туннелирования электронов и увеличение эффективности данного эффекта за счет введения в область туннельного контакта оптических наноантенн
27.03.2025
Лекция в Центре: Крылов Александр Сергеевич
Возможности спектроскопии комбинационного рассеяния света для исследования кристаллических материалов
13.03.2025
Лекция в Центре: Шеремет Евгения Сергеевна
Как исследовать химический состав на наномасштабе с помощью спектроскопии
27.02.2025
Лекция в Центре: Митько Татьяна Владимировна
Применение атомно-силовой микроскопии для исследования молекул биополимеров на примере ДНК и комплексов ДНК-белок
13.02.2025
Лекция в Центре: Толкач Никита Михайлович
Активные оптические элементы на основе тонкопленочных многослойных фазопеременных материалов для компонентной базы фотоники
05.02.2025
Победа в ИТМО: сотрудник Центра зондовой микроскопии стал лидером LIV конференции
Сотрудник Центра Зондовой Микроскопии Университета ИТМО Олег Новиков стал победителем Пятьдесят четвертой (LIV) научной и учебно-методической конференции ИТМО‑2025. Его работа посвящена синтезу микрочастиц серебра для Рамановской спектроскопии и исследованию образцов с помощью атомно-силовой микроскопии.
